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半导体激光器
Products
微米深度测量仪(KY-90)
半导体芯片
模具纹理深度
镀膜加工
精密加工件
机械加工件

光切断显微镜技术
非接触深度测量
非接触高度测量

0.1μm精度:
HM-90-II-TVC
1μm精度:
KY-90-HL-TV
KY-90-TV_KY-90-P
KY-120-TV_KY-120-P
KY-60-TV_KY-60-P
KY-30-TV_KY-30-P

SPF测量仪(SPF-290AS)

雅芳、巴斯夫、伊丽莎白雅顿、雅诗兰黛、强生、欧莱雅、玫琳凯、联合利华、辉瑞、安利
上海联合利华、上海强生、上海家化、上海雅芳、上海伽蓝集团、深圳华测检测
上海市疾病预防控制中心、四川省疾病预防控制中心
义乌出入境检验检疫局、义务国家日用小商品质量监督检验中心
复旦大学、北京工商大学、武汉工程大学

SPF-290AS 参数
波长范围 290 - 400 nm
波长准确度 0.2% (0.58 nm - 0.80 nm)
波长重复性 0.25 nm
光谱线宽 1.66 nm
吸光度 0 - 3.2 A
SP测量范围 1 - 100+
扫描时间 ≤ 24 
扫描步长 1 nm, 2 nm, or 5 nm
光源 125 W连续氙灯
探测器 高灵敏PMT
采样位置 电动X-Y平移台
电源 220V AC, 50 Hz


end
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